Hall Effect -laite

Edistynyt sähkökuljetuskarakterisointialusta

DX -3000 on monitoiminen testausalusta, joka on suunniteltu kattavaan analysointiin sähköisten kuljetusominaisuuksien suhteen. Siinä yhdistyvät Hall Effect, magnetoresistenssi ja IV -karakterisointi yhdessä integroidussa järjestelmässä. Optimoimalla instrumentoinnin valinta ja poistamalla manuaalisen johdotuksen monimutkaisuudet (huoneen/matalan lämpötilan asetukset), se virtaviivaistaa tiedonkeruun tarkkuuden ja toistettavuuden saavuttamiseksi. Yhteensopiva sähkömagneettien tai suprajohtavien magneettien (käyttäjän konfiguroitavissa) kanssa, se tukee älykkäiden näytteen koettimia ja muokattavissa olevia ohjelmistoja nopeisiin, automatisoituihin mittauksiin.

• Tehokas työnkulku: Modulaariset näytekortit mahdollistavat nopean asennuksen (tukee 2–4 näytettä samanaikaisesti lisäosien kanssa).
• Laaja mittausalue: Vastusanalyysi 0. 1MΩ-100GΩ (laajennettavissa korkeajännitteisen/impedanssimoduulien kautta).
• Mukautuva testaus: Ohjelmoitavat virran/magneettikentän parametrit dynaamiselle Hallille ja resistenssien arvioinnille.
• Reaaliaikainen visualisointi: Automaattinen ohjelmisto luo välitulokset, käyrät (IV, RT, RH) ja lopulliset parametrit (kantaja -tiheys, liikkuvuus, arkin vastus).
• Magneettinen joustavuus: Nollakentän stabilointi, pitkäaikainen kenttästabiilisuus ja nopea kentän hallinta integroiduilla GAUSS-mittarilla.
• Lämpötilan monipuolisuus: Valinnaiset kryogeeniset moduulit (1,6k - 800 k) muuttuvia ympäristötutkimuksia varten.

• Puolijohteet: SIGE, Ingaas, Hgcdte, SIC, Algaas jne.
• Johtavat elokuvat: Metallit, TMR -rakenteet, läpinäkyvät oksidit.
• Korkean impedance-substraatit: Puolieristävä Gaas, Cdte, Gan.

1. Hall Effect -analyysi:
   Tulokset: Resistiivisyys, Hall -kerroin, kantajatyyppi/pitoisuus, liikkuvuus.
2. Magnetoresistenssin profilointi:
   Mittarit: ΔR, ΔR/r%, RH -käyrät.
3. Dynaaminen karakterisointi:
   IV kartoitus muuttuvien lämpötilojen/kenttien kohdalla.
   Lämpötilasta riippuvainen vastus (RT) kiinteiden kenttien alla.

Sähkömoduulit: Keithley Precision Instruments (nykyiset lähteet, nanovoltmetterit, kytkinmatriisit).

Magneettivaihtoehdot:

• Dx -100: 1,5T Max (60 mm Pole, ± 1% tasaisuus).
• Dx -130: 2,5T Max (100 mm Pole).
• Dx -180: 2,7T Max (120 mm Pole).

Lämmönohjaus(Valinnainen):

Nestemäinen typpi (80–500 k), kryostaatit (4–325 k), kompaktit jääkaapit (45–325k).

Näytteen mitat:

• Pienet/koetinkortit: 12x12mm² - 30x30mm².
• Suuret kortit: 50x50mm².

Sähkörajat:

• Virta: ± 100PA - 100 mA (resoluutio: 100PA).
• Jännite: ± {{0}}. 1μV - 30 V (resoluutio: 0,1 μV).
• Max -kantoaaltotiheys: 1 × 10¹⁸ cm⁻³.

Tarkkuuskriteerit:

• Kenttä/paksuus epävarmuus<1%.
• Optimaalinen B-kentän/paksuussuhde: 1T/mm.

• Näytevalmistelu: Tukee 4-/6- lankakokoonpanoja.
• Ohjelmisto: Täysi automaatio tietojen kirjaamisella, käyrän sovituksella ja parametrien poistolla.
• Vaatimustenmukaisuus: Alhainen virrankulutus (<1mV sample excitation).

Puolijohde-tutkimus- ja kehitys, magneettinen materiaalitutkimus, ohutkalvojen laitteen validointi ja edistynyt materiaalitiede.

(HUOMAUTUS: Mukautetut kokoonpanot saatavilla olemassa oleville laboratorioasetuksille tai erikoistuneille vaatimuksille.)